金属膜厚测量仪可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从埃至微米(μm),它也能测量多至24个元素的块状合金成分,其准确度、精密度和稳定性是的,适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。
金属膜厚测量仪的样品台选择:
采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
一:手动样品台
1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
金属膜厚测量仪应用行业
用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……适用于所有有凹凸的机械部件与电路板的底部的测量.
欢迎来电!请联系,金霖电子 吴小姐 手机:13603036715 TEL:0755-29371651 FAX:29371653 公司网址:www.kinglinhk.com 深圳宝安中心区创业一路宏发中心大厦