E+H电磁流量计供应现货

E H电磁流量计：Levelflex M FMP41C, FMP45 实时液位测量系统 Endress＋Hauser公司新推出新的E H物位计Levelflex M FMP41C, FMP45。该款导波雷达物位计，利用雷达的回波原理来检测总液面和界面的位置，并运用功能强大的TOF软件进行数据和图形分析，弥补了电容物位计不能同时测量总液位高度的缺陷，与传统的浮筒液位计相比，维护难度和费用大大降低。 Levelflex导波雷达物位计是革于时间行程原理(ToF)工作的“俯视式”测量系统.用于测量参考点(过程连接处）至被测液而间的距离.探头发射高频脉冲信号，信号沿探杆/缆传播并在被测液面处产生反射。仪表内的电子部件接收反射回波信号，并将其转换成液位高度。通常，也称此测方法为时城反射法(TDR)。 智能导波雷达物位计，可用于液体液位测量和界面测量 介电常数 被测介质介电常数(DK)的大小直接影响高频脉冲信号的反射率。介电常数(DK)较大时，如水和氮水，脉冲反射回波信号强;反之，介电常数(DK)较小时，如碳氛化合物，脉冲反射回波信号弱。 输入 脉冲反射回波信号沿探杆/缆传送至仪表的电子部件.内置微处理芯片对接收到的信号进行分析、识别出真正的液位回波信号。PulseMast软件凝聚了30余年的时PMU一行程原理测量实践经验，能准确地识别出实际液面的回波信号。 侧量参考点至被测液面间的距离(D)与脉冲运行时间差(t)成正比: D=c.t/2 其中c是光速 空罐高度(E)为已知量，因此，液位高度(L)为: L=E-D Levelflex导波雷达物位计具有干扰回波抑制功能.由用户自行激活。该功能可以有效地避免罐体内部的结构突出物引起的干扰回波被误认为延实际液而的有效回波信号。 选择E H物位计，恩德斯豪斯作为众多国际品牌，在机械设备、五金工具、仪器仪表、电子元器、气动元件、液压元件，生产厂商在中国的合作伙伴，公司为广大客户提供更好的选择，有优势的给客户的价格，是您信赖的品牌。 E H:http://www.endress-h.com 恩德斯豪斯:http://www.endress-h.com E H办事处:http://www.endress-h.com E H电磁流量计:http://www.endress-h.com/dcllj/ E H超声波流量计:http://www.endress-h.com/csbllj/ E H差压流量计:http://www.endress-h.com/cyllj/ E H流量开关:http://www.endress-h.com/llkg/