高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提品的性和进行产品的质量控制。 三箱式：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。 产品符合标准 设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5 GJB1217等标准的要求。 技术参数 型号 WDCJ-162 WDCJ-340 WDCJ-500 WDCJ-010 工作室尺寸:mm 450×450×450 600×600×600 800×800×800 1000×1000×1000 样品区尺寸:mm 300×300×250 450×450×360 650×650×500 850×850×700 性 能 指 标 温度范围 A:-20℃～200℃ B:-40℃～200℃ C:-60℃～200℃ 温度波动 高温室及低温室均≤±2℃ 样品区温度波动 ≤±0.5℃（恒温时） 样品区承重 20kg 30kg 50kg 温度运行控制系统 控制器 日本UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器 韩国TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器 （选其一） 精度范围 设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃ 制冷系统 德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式 循环系统 耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮 温度转换时间 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S 温度恢复时间 ≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）