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HPS2561四探针电阻率测试仪

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¥面议 更新于:2017-01-16 09:26:00
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测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻 四探针电阻率测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。 专用四端探针测试线!
HPS2561四探针电阻率测试仪
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