OMT-3R半导体检查显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的,作为金相显微镜用户在使用时能够体验其性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装的检测。OMT-3R半导体检查显微镜采用了反射和透射两种照明形式,在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好。符合人机工程学要求的设计,使您在工作中感到舒适和放松。
OMT-3R半导体检查显微镜特点说明
1. 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
2. 拓展了物镜的复用技术,无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法,DIC并在
每一观察法中均提供高清晰的图像质量。
3. 采用非球面Kohler照明,增加观察亮度。
4. WF10×(Φ25)超大视野目镜,长工作距离明暗场金相物镜。
5. 可插DIC微分干涉装置的转换器。