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纳米焦点X射线检测系统

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¥面议 更新于:2015-11-17 14:36:00
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phoenix nanome|x 是超高分辨率的纳米焦点 X射线检测系统,设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连。 该系统具有佳的性能和多功能性,可用于二维X射线检测,以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。 有了新的 x|act 软件包, phoenix nanome|x是可选的系统,用以确保满足目前和未来的零缺陷要求。 应用 安装好的印刷电路板 处理器箱内倒装芯片焊点的纳米焦点X射线图像。 图像显示一个焊桥和几个开放的焊点。 焊点直径大约为 150
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