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4279A C-V表 HP4279A

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¥面议 更新于:2013-08-23 13:56:00
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经营年限

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所在地区

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主要特性与技术指标 •用于晶片掺杂的C-V测量 •变容二极管的C-V表征和分类。 •射频混频器和转换二极管的电容测试。 •通过进厂检验的应用直流偏置测试电容器。 •测量时间:10ms/20ms/30ms •测量精度:0.1%(20ms) •内部直流偏置:0至+/-38V,0.1%可编程扫描 •测量范围:0.00001pF至1280pF 主要特性与技术指标 •用于晶片掺杂的C-V测量 •变容二极管的C-V表征和分类。 •射频混频器和转换二极管的电容测试。 •通过进厂检验的应用直流偏置测试电容器。 •测量时间:10ms/20ms/30ms •测量精度:0.1%(20ms) •内部直流偏置:0至+/-38V,0.1%可编程扫描 •测量范围:0.00001pF至1280pF
4279A C-V表 HP4279A
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