Thick-900A型 X荧光测厚仪

Thick-900A型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。 Thick-900A型X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。 它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。 我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发及生产技术人员，依靠先进科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900A 型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。 公司的产品有： EDX-2600 型 X 荧光 ROHS 分析仪、EDX-2800 型 X 荧光铜合金分析仪、EDX-6800 型 X 荧光分析仪、THICK-900 型荧光测厚仪、THICK-900A 型荧光测厚仪、WISDOM-6000 型 X 荧光分析仪、WISDOM-6000A 型 X 荧光分析仪、WISDOM-6600 型 X 荧光分析仪、WISDOM-9000 型 X 荧光分析仪、WISDOM-9600 型 X 荧光分析仪、WISDOM-8000 系列 X 荧光分析仪、WISDOM-1800 型 X 荧光石油测硫仪、WISDOM-1000 型 X 荧光分析仪、WISDOM-9900 型 X 荧光分析仪、MX 型 X 荧光手持式分析仪、煤炭灰分快速分析仪、自动配料质量监测控制系统、电厂煤灰监测控制系统等。