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铝膜测厚仪 铝膜包装测厚

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¥1 更新于:2019-11-05 12:07:00
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铝膜测厚仪 铝膜包装测厚 产品介绍 随着新型包装材料发展,要求阻透性薄膜上真空沉积大约35NM的铝涂敷层,因而极大提高了薄膜对气体的阻透性,这是因为气体和芳香都不会在金属中相溶,金属层的存在也能保护包装物,使其避光,铝膜的厚度直接影响膜阻透性。因此,测试和控制铝膜厚度就显得尤为重要,AT-LM型测厚仪广泛应用软包装行业中,而且测试方便迅速。 技术参数 量程范围: 0-1000埃 分辨率: 10埃 测量准确度: ≤±3%(F.S) 读数重现性(同一测试点): 30埃 应用对象 : 软包装新材料 注:1微米=1000纳米=10000埃
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