Cost-effective通讯领域专用光束分析仪！通讯领域专用光束分析仪价格革命！
关键词：光束分析仪，聚焦光束测量仪，聚焦光轮廓分析仪，通讯领域专用光束分析仪，光束质量分析仪，实时准直系统，实时光斑准直测量系统，C波段光束分析仪，L波段光束分析仪，C&L波段光束分析仪
为了满足通讯领域中广大客户的需求，并提高客户的工作效率和降低客户的生产成本，德国著名光束分析仪厂商Cinogy公司设计生产了专门用于通讯领域的光束分析仪，主要用于测量850nm，1310nm和1550nm等通讯波长的激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等，实时监测光束形状以及变化。
德国Cinogy公司为通讯领域设计生产的光束分析仪主要分为CinAlign光束分析仪和CinFocus光束分析仪两种。CinAlign光束分析仪主要是用于准直的或者较大光斑（一般在53um以上）的激光光束测量，一般用于测量远场的激光光束；CinFocus光束分析仪主要是用于聚焦光斑（最小可达1.1um）的激光光束测量，一般用于测量近场的激光光束。
CinAlign光束分析仪 – 用于测量准直或者较大光斑的激光光束
德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinAlign光束分析仪，主要是用于测量准直的或者较大光斑的激光光束的光斑大小、能量分布、发散角、功率以及指向稳定性等。CinAlign主要分为CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR两种相机，基本涵盖了所有通讯波长，其响应波长范围为320~1610nm，主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长的激光器。CinAlign测量的激光光斑范围为52um~4mm，兼容测量连续以及脉冲激光器。
特点：
1. 测量的波长范围：320~1610nm
2. 测量的光斑大小：52um~4mm
3. 实时监控光斑形状以及变化
4. 分辨率高，高准确度
5. 测量激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等
技术指标：
相机型号
CinCam CMOS-1202
CinCam CMOS-1201-IR
规格
1/1.8’’
1/2’’
通光孔径
6.8mm x 5.4mm
6.7mm x 5.3mm
分辨率
1280x 1024
1280x 1024
像素大小
5.3um x 5.3um
5.2um x 5.2um
波长范围
320~1350nm
1470~1610nm
位深
8Bit
8Bit
动态范围
>62dB
>61dB
接口
USB2.0
USB2.0
模式
连续和脉冲
连续
尺寸(WxHxL)
40mm x 40mm x 20mm
40mm x 40mm x 20mm
主要软件视图：
1. 光斑/功率的测量
2. 发散角的测量
CinFocus光束分析仪 – 用于测量聚焦的激光光束
德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinFocus光束分析仪，主要是用于测量聚焦光束的焦点光斑大小、焦距、发散角、功率以及指向稳定性等。该系统集成了CinCam CMOS光束分析仪，确保了测量的准确性。测量波长范围为320~1610nm，基本涵盖了所有通讯波长，一般主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长。CinFocus光束分析仪系统主要由显微镜和CinCam CMOS光束分析仪组成，其可测量的聚焦的光斑最小可达1.1um。另外，该系统为一个开放式光束分析仪系统，其中的CinCam CMOS光束分析仪可取下使用，用于测量准直的或者较大光斑的光束（最大测量光斑为4mm）。
特点：
1. 测量的波长范围：320~1610nm
2. 测量的光斑大小：1.1um~4mm
3. 实时监控光斑形状以及变化
4. 分辨率高，高准确度
5. 测量焦点位置的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等
技术指标：
规格
10x System
20x System
40x System
波长范围
320~1350nm，1470~1610nm
工作距离(mm)
10
3.3
0.6
焦距(mm)
15.26
8.55
4.39
可替换的衰减片
OD1.0~OD5.0
光学分辨率(um)
1.5
1.2
1
光斑大小(um):
CMOS1201
CMOS1202
CMOS1203
~5.2-267
~5.3-272
~4.5-270
~2.6-134
~2.6-136
~2.3-135
~1.3-67
~1.3-68
~1.1-67
视场(um)：
CMOS 1201
CMOS 1202
CMOS 1203
666 x 533
678 x 543
720 x 540
333 x 267
339 x 272
360 x 270
167 x 134
170 x 136
180 x 135
最大输入功率
100mW
主要软件视图：
1. 焦点位置的光斑/功率/指向稳定性的测量
2. 发散角的测量
