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低温挠卷试验装置

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¥面议 更新于:2016-10-24 15:00:00
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低温挠卷试验装置 低温挠卷试验装置标准:JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE 低温挠卷试验装置说明: 导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后,立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料,则先行卷绕,再冷却相同之时间后,立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料,检视其表面产生龟裂、裂痕。 低温挠卷试验装置技术参数: 温度 Temp. 冷却方式 Cooling method 降温速度 Cooling speed 精度 Accuracy 材质 Material 圆杆 Rod 内箱 Test chamber 线套 体积 Dimension (W×D×H) 重量 Weight 电源 Power -40~ 130℃ 气冷式 Air Frozen 常温 Room temp. ~-40℃, 60min ±2℃ 内外箱, SUS304# Φ4.0~37.5mm,共12支 45×50×50cm Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 100×80×135cm 262kg 1∮ AC 220V 30A
低温挠卷试验装置
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