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BMH-J3数显薄膜测厚仪

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¥面议 更新于:2014-02-13 14:41:00
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经营年限

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所在地区

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BMH-J3数显薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 本薄膜测厚仪生产参照执行标准GB/T6672-2001。 1、测量范围:(0-25)mm 2、分辨率:0.001mm 3、电源:氧化银电池SR44 4、工作温度:0℃~ 40℃ 5、储运温度:-20~ 70℃ 6、相对湿度:≤80% 7、数据输出任意位置置零公英制转换自动断电
BMH-J3数显薄膜测厚仪
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