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涂层测厚仪MINITEST730

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¥面议 更新于:2019-11-12 10:59:00
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德国EPK涂层测厚仪MINITEST730 产 品 说 明 : MINITEST 720/730/740涂层测厚仪 -创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性 -测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用 -FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错 SIDSP技术-全球新技术,智能数字化的涂层测厚探头 模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是? SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。 SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理? 跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。 SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。 德国EPK(Elektrophysik) MINITEST 730 涂层测厚仪 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪为选择SIDSP? SIDSP探头具有极高的抗干扰性 任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP-测量信号高稳定性 EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的性能。 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪高度的SIDSP探头特征曲线 在生产过程中,EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准,但SIDSP探头不同:由于是全自动化过程,探头在50个点上进行校准,大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分,将测量错误降至较低。 德国EPK(Elektrophysik) MINITEST 730 涂层测厚仪 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP探头对温度变化不敏感 在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生! MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP探头适应性强 需要快速测量几个点?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择! MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿 由于使用了EPK特殊的自动补偿方法,SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料,如铜,钛,等等,无需特别在基体上校准仪器。 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP-未来解决方案 EPK将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的网站进行免费的软件升级,使您的SIDSP探头总是新版本。 德国EPK(Elektrophysik) MINITEST 730 涂层测厚仪 MINITEST 720/730/740涂层测厚仪及SIDSP 新的MINITEST 700产品线,加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位. 有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您
涂层测厚仪MINITEST730
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