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珠宝顶端技术贵金属检测仪EXF7200

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¥面议 更新于:2014-11-19 14:50:00
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所在地区

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光谱测金仪EXF7200 技术参数: 微信号:913748737 技术指标: 分析范围:1%~99.99% 测量时间:自适应 30~50秒 测量精度:±0.1% 测试环境:常温常态 可分析元素:金(Au),银(Ag),铂(Pt),钯(Pd), 铜(Cu),铑(Rh),钌(Ru),锌(Zn),镍(Ni),镉(Cd),根据元素能量表可观察以上出各元素的图谱。 X射线源:X射线光管(风冷无辐射) 测量点尺寸:1~2mm 高压器:4~50Kv 分析:多通道模拟 电压:100~127或200~240V,50/60 Hz 尺寸:500*500 *350 mm(较大处) 重量:35kg 操作系统:Windows2000/XP 仪器配置: X光管 正比计数探测器 高压电源 放大电路 液晶显示屏幕 摄像定位系统 镀层测量:     镀层厚度范围<30µm     可测量元素种类:Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd     较大测量层数:5层     测量精度:0.03µm 产品特点: 1)仪器性价比高 承诺,本公司各款测金仪价格,低于市场上任何一款同类产品的价格。本产品采用先进技术成果,提高了性能,节省了成本。 2)测量元素全面,涵盖贵金属行业补口数据库 能够测量:金Au(包括K金),铂金Pt,白银Ag,钯金Pd,铑Rh,铜Cu,锌Zn,镍Ni,钨W等金属元素。 3)快速定性定量判断 1~3秒可以对首饰做定性判断,30秒检测出结果。较高度可以达到0.1%,风冷散热循环系统,稳定,重现指标高。 4)将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域 该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外,还可以将首饰被检测到的位置的图片信息,连同计算报告一起打印出来。 5)的硬件参数液晶显示系统 仪器外壳上自带系统参数液晶显示屏,操作人员可随时通过显示屏,观察到设备内部硬件的参数,例如电压﹑电流﹑温度等等,能有效延长设备寿命。 6)售后服务遵循仪器仪表规定 产品实行仪器仪表“三包”,一年保修,三月包换,终生维护,终生免费软件升级。
珠宝顶端技术贵金属检测仪EXF7200
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