XCounter双能光子计数X射线探测器

瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器XC-FLITE FX系列 小平板探测器，直接成像探测器，MINI平板，CdTe-CMOS传感器，光子计数探测器，双能光子计数X射线探测器，X射线探测器，CMOS传感器，线阵探测器，线阵探测器，平板探测器，微型平板探测器 产品描述 XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。 XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。 引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的先进之处，在双能采集过程中，通过两个独立的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的医学和工这为新的医学和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而获得更高的能量分辨率。 集成 XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台 应用 *小范围辐照 *小动物成像 *实验室样品和标本成像 *工业检测（NDT） 特点&优势 *三种尺寸可选 *CdTe-CMOS传感器，高品质成像 *双能采集，具有材料区分能力 *反符合技术，卓越的能量分辨率 *可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式 *兼容Windows操作系统，从XP到Windows8 *配有功能强大的系统软件 技术参数 物理参数 尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5 cm 温度控制：Internal Peltier温度控制 环境温度：+10 - +40℃ 储藏温度：-10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度 射线窗：碳纤维， 厚500μm 射线屏蔽：根据应用 传感器 传感器数量：FX1：1 FX2：2 FX3：3 传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS 传感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe 有效面积：FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素) FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素） 像素：100μm 像素填充率：100% 性能 帧率：最高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式） 动态范围：12 bits 像素合并：1×1，2×2，4×4 曝光时间：100μs-5s DQE（0）85%@RQA5 spectra MTF：＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm 管KV范围：15-250kVp 内部测试模式：伪随机调试模式 外部触发输出：3.3V TTL 输入：5V 滞后：0% 拖影：＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy） 分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）