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广东省 深圳市
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美国UPA手持式β射线测量仪器是世界上款手持式β射线测量仪器测量涂镀层厚度在生产线上可作为手持式仪器,在质量控制实验室可作为台式仪器使用●多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品●菜单控制、友好操作界面的软件和易于读数的背景光读数显示●可通过USB端口将样品数据传输至电脑●人体力学设计,使用舒适、方便、效率高●充电式镍电池,可连续测量使用20小时●充电底座可充当测量工作台
美国UPA Micro-Derm镀层和涂层测厚仪MP-900
β射线反向散射测量技术
依照标准ASTM B567,ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则
应用在测量许多经典结构的镀层厚度,包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy),光致抗蚀剂photoresist,铜上镀银(Ag/Cu),科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar,铁上镀氮化钛Ti-N/Fe,锡铅合金Sn-Pb。
Micro-Derm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍(Ni/Cu)的厚度。
探头系统可以用于测量各种样品表面,从小零件(连接器和端子)到大零件(印制线路板)。
Micro-Derm BBS厚度标准片(4点设定)包括:材料的底材,表面镀层的材料无限厚片和两块经过NIST(美国联邦标准技术委员会)认证的标准厚度的薄片。
量的制造技术确保尽可能的镀层厚度测量。
设计体现了无与伦比的易操作性和率。
TESTING INSTRUMENTATIONMicro-Derm MP-900只有MP900融合了β射线反向散射和霍尔效应测量技术。避免了因为存在两种需要而购买了两种仪器的麻烦。紧凑的设计全面的测量能力经济的X射线荧光分析仪器的替代品提高生产量45种标准档案记忆允许用户快速的进行应用转换。多点校正模式应用于霍尔效应测量(测量镍厚)。
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PS-10A探头系统
HH-3探头
HH-4探头
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深圳市安达仪器仪表有限公司经营:
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