langer朗格尔E 1 抗干扰开发系统

langer朗格尔E 1 抗干扰开发系统

E1 抗干扰开发系统说明

E1 抗干扰开发系统是电子研发工程师对组件进行快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等脉冲抗干扰测试的成熟工具。利用该工具，可以对模块进行小空间范围内的抗干扰度分析。在对受试设备（EUT）的抗干扰分析中，能够选择性地给部分模块或部分路段注入干扰电流（干扰电流路径），以及能够对其表面的选定区域施加电脉冲场（E 场）或磁脉冲场（H 场）正是快速、准确定位薄弱点的关键。另外，使用本系统还可以在施加脉冲干扰的同时，进行无反作用的光纤信号监测。

E1 干扰发射开发系统的着重点是对系统开发过程的支持。利用 E1 系统，开发人员可以在工作场地排查设备/组件的干扰问题，或者通过了解干扰问题的直接原因，测量评估修改措施的效果，增强设备/组件的抗干扰度。

E1 抗干扰开发系统不能用来进行标准兼容性测试，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 标准对组件进行抗干扰的测试结果，是使用 E1 系统进行抗干扰测试的良好基础。通用脉冲群发生器产生的标准干扰信号被耦合到输入端，并通过地线回流到发生器。这些脉冲状的干扰信号流过设备组件的路径是未知的。在设备当中，未知的部分干扰信号流入某个未知的接受载体而产生功能故障。这个薄弱点的位置往往仅局限在组件上几平方厘米的范围内，但是通过标准测试方法很难对其定位。开发人员还不知道，是干扰电流及其磁场以及在位置导致导线回路中产生感应电压脉冲，或者电场容性耦合进入了敏感线路。

如果设备通不过标准测试，其重要的测试结果是关于功能故障类型的详细信息。但是仅凭借这些故障信息尚无法具体定位受试设备中的薄弱点。所以，建议先对受试设备进行标准的抗干扰测试，确定可能的故障现象，然后开发人员根据这些故障现象，在产品开发场地利用 E1 系统定位

故障点及分析故障原因，给出排除干扰问题、设计修改等解决办法，并使用 E1 开发系统，评估各项修改措施的有效性。

借助 E1 系统，开发人员可以节约产品开发时间、降低开发成本。

Langer BS 02

Langer BS 04DB