杂质含量测试仪

产品介绍 适合于对晶体进行杂质含量测试，其主要用途是对样品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在内的多种个元素进行分析。 产品特点 ■干扰少，精密读高，可以测量至ppb甚至ppt级的微量元素 ■ 测试范围广，可以测量超过75个以上的元素 ■ 分析速度快，每个样品的所有元素 2-6分钟 ■ 可同时分析多种元素,尤其适合分析用其它方法难以测定的元素 ■ 超高灵敏度的元素分析仪器 ■ 能进行无人控制操作 ■ 具有痕量检测能力 ■ 极低的仪器背景至0.5-0.05cps ■ 体积小巧、功能全面 ■ 可迅速获取同位信息，进行半定量分析 ■ 的全谱同时测量能力和强大的抗干扰能力 ■分辨率与灵敏度的配置，优异的稳定性以及无与伦比的同位素丰度比值测量精密度 ■ 动态线性范围达到7个数量级以上 ■ 每一个样品中需要测量的元素数量均不影响样品分析的整体速度 推荐工作条件 ■ 室内环境温度15～30℃；相对湿度（全天候）不超过60%。 ■ 室内无强磁妨碍仪器正常工作的震动。 ■ 室内环境清洁、干燥、没有灰尘、无腐蚀性气体。 ■测试仪是精密仪器，为防止酸、碱及其它腐蚀性气体、烟雾侵蚀仪器，必须和化学实验室分开；仪器光学系统对湿度、温度要求很高，实验室应安装空调及去湿设备。 技术指标 ■ 检出限：ppt级 ■ 样品分析能力：多元素分析，可以测量超过75个以上的元素，每个样品的所有元素 2-6分钟 ■ 线性动态范围：108 ■ 电源：100～240V(±10%)，50/60HZ，300VA 典型用户 南玻集团、洛阳中硅、新光硅业等