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半自动硅片厚度TTV测试仪

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¥面议 更新于:2013-04-01 15:03:00
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特征 ■适用于硅片等各种材料的厚度TTV测量 ■测量范围:0~2mm ■分辨率:0.1μm ■微电脑控制、液晶显示 ■菜单式界面、PVC面板操作 ■接触式测量 ■测头自动升降 ■手动、自动双重测量模式 ■数据实时显示、自动统计 ■显示厚度、TTV、平均值和统计偏差 ■电源:AC 220V 50Hz
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