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高分辨率微焦点DR检测系统

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¥面议 更新于:2017-08-24 14:58:00
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高分辨率微焦点DR检测系统 关键特征: 190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源 JIMA卡空间分辨率测试可达2微米 支持多种平板探测器,探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米 高分辨率的实时快速成像 快速图像处理,保存多种图像格式 主要技术规格: 微米焦点射线管 类型 反射型高功率微焦点射线管 管电压 190kV/225kV/240kV/300kV 冷却 封闭式自循环冷却 焦点大小 225kV/240kV:2微米 (采用JIMA卡测试) 300kV:3微米(采用JIMA卡测试) 探测器 类型 非晶硅平板探测器/线阵探测器 像素大小 100um /127um /139um/200um 像素数量 平板探测器:>2048x2048 线阵探测器:4100 机械系统 类型 高精度机械系统 有效检测范围 可定制化 承重 可定制化 旋转 nx360° 软件 类型 二维射线检测 软件功能 系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能
高分辨率微焦点DR检测系统
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