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晶片表面缺陷测试仪

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¥面议 更新于:2013-04-01 15:02:00
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产品介绍: SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪,实现了缺陷和定向双功能。 产品特点: ■ 缺陷和定向双功能 ■ 配有射线窗口电磁光闸和的射线防护罩,确保安全使用 ■ 表格和曲线的形式显示,一目了然 ■ 速度快,重复性好 ■ 效率高,数据实时处理 技术参数: ■ 测试时间:1-2分钟 ■ 重复性精度:≤±5″。 ■ 测角精度为±15″ ■ 小读数1″ 典型客户: 台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。
晶片表面缺陷测试仪
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